A9000 FXnano-AD納米大顆粒計數(shù)器的集聚光束光阻技術(shù)（Focused Light Obscuration）是在傳統(tǒng)單LE光阻傳感器的單顆粒光學(xué)傳感技術(shù)的基礎(chǔ)上加入了FXnano傳感器。雙傳感器同時運行的情況下，檢測下限由原來的0.5μm下探至0.15μm，使得該儀器在大顆粒檢測領(lǐng)域的應(yīng)用更加的廣泛。

納米大顆粒計數(shù)器集原樣進樣檢測、自動稀釋等全自動檢測功能于一身，為用戶提供可方便、快捷、高效、可靠的粒徑分析。FX系列可以測試計數(shù)到150nm,濃度高達10million個/mL的樣品。可以滿足蛋白質(zhì)聚集和高濃度slurry的測試要求，是PSSZ全能性的顆粒計數(shù)器系列產(chǎn)品。

納米粒度儀，顆粒計數(shù)器，不溶性微粒檢測儀，在線粒度檢測儀，高壓微射流均質(zhì)機，Zeta電位與粒徑分析儀，大乳粒分析儀，粒度儀，激光粒度儀，納米激光粒度儀，美國PSS 顆粒計數(shù)器，不溶性微粒檢測儀

BeNano 90 Zeta 納米粒度及Zeta電位分析儀 是 BeNano 90 + BeNano Zeta 二合一的光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了動態(tài)光散 DLS、電泳光散射 ELS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準確的檢測顆粒的粒徑及粒徑分布，Zeta 電位，高分子和蛋白體系的分子量信息等參數(shù)，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。

BeNano 180 納米粒度儀是采用背向散射技術(shù)用于檢測納米顆粒粒度及其分布的光學(xué)檢測系統(tǒng)。它基于動態(tài)光散射原理，樣品分散在樣品池中，通過激光照射到樣品上，光電檢測器在背向 173°角檢測樣品顆粒布朗運動造成的散射光強隨時間的波動，再通過相關(guān)器進行自相關(guān)運算得出樣品的自相曲線，結(jié)合數(shù)學(xué)方法就可以得到顆粒的擴散系數(shù)，進一步利用斯托克斯 - 愛因斯坦方程就得到樣品的粒度結(jié)果

BeNano 180 Pro 納米粒度分析儀是 BeNano 180 + BeNano 90 二合一的光學(xué)檢測系統(tǒng)。該系統(tǒng)中集成了背向 173°和經(jīng)典的 90°動態(tài)光散射 DLS 和靜態(tài)光散射技術(shù) SLS，可以準確的檢測各種濃度樣品的粒徑及粒徑分布，可廣泛的應(yīng)用于化學(xué)、化工、生物、制藥、食品、材料等領(lǐng)域的基礎(chǔ)研究和質(zhì)量分析與控制。雙角度結(jié)合測量兼顧高低濃度樣品，還具有檢測極微量樣品的能力。